蔡司X射线显微镜 VersaXRM系列_活动

蔡司X射线显微镜 VersaXRM系列

2025-04-22 09:00-2025-12-31 17:30 展会

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蔡司X射线显微镜 VersaXRM 系列成像产品秉持独特的几何加光学两级放大设计理念。无需制作切片或破坏样品，即可精准确定缺陷位置，分析缺陷形态，查找失效原因，进而提升产品质量。目前已经广泛的应用在半导体和电子封装、元件和器件的失效分析及工艺开发等研究领域。

核心技术优势：
· 可达450nm 最高真实空间分辨率
· 实现1分钟内三维成像的快扫模式
· 智能易用的全自动的系统控制软件
· 基于AI的高级重构功能提升图像质量或效率
· 大工作距离高分辨: 700nm@50mm，750nm@100mm

· HART 高纵横比样品优化扫描模式提升扫描效率可达 50%

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